Ensayos Físicos-Químicos

La Unidad de Ensayos Físico-Químicos proporciona un servicio especializado en la realización de ensayos físicos y químicos, esenciales para la caracterización de materiales de construcción.

Engloba tanto técnicas analíticas instrumentales como métodos clásicos de análisis químico que permiten analizar la composición, propiedades y comportamiento de materiales, contribuyendo a la síntesis y desarrollo de nuevos materiales y la evaluación de los existentes.

Colabora con otros departamentos del Instituto y con clientes externos, incluyendo otros centros del CSIC, organismos públicos de investigación, universidades y empresas privadas.

Cuenta con un amplio catálogo de técnicas instrumentales y con personal técnico cualificado en continua formación, comprometido con proporcionar resultados precisos y confiables que impulsen el avance de la investigación y la tecnología en el sector.

• Contacto: ensayosfq@ietcc.csic.es

Análisis térmico TGA-ATD Y DSC

Analizador térmico NETZCH-STA 449 F3 JUPITER

Cromatografía iónica

Cromatógrafo iónico 930 METROHM, con supresión química secuencial y detector de conductividad.

Difracción de rayos X (DRX)

Difractómetro de polvo Bruker D8 ADVANCE, con ánodo de Cu y detector ultrarrápido PSD (Lynxeye).

Espectroscopía de emisión (ICP-OES)

VARIAN 725-ES ICP-OPTICAL emission spectrometer

Espectrofotometría (reflectancia visible/solar y emitancia in-situ)

Espectrofotómetro portátil de fibra óptica de Stellarnet (dotado de distintos accesorios de Stellarnet y Ocean Insight)

Emisómetro portátil ET-100 de Surface Optics Corporation.

Estereomicroscopía

Microscopio estereoscópico Olympus SZ-61.

Fluorescencia de rayos X (FRX)

Espectrómetro de fluorescencia de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDX) S8 TIGER, de Bruker.

Métodos clásicos de análisis químico

Determinación según normas UNE-EN de: sulfato, residuo insoluble, dióxido de silicio, dióxido de silicio reactivo, cal libre, pérdida por calcinación.

Microscopía electrónica de barrido (SEM) con Microanálisis por EDX (9)

Microscopio electrónico de barrido, de emisión de campo por cátodo frio FE-SEM HITACHI S-4800.

Detector Bruker Nano, modelo X-Flash Detector 5030.

Microscopía de fuerzas atómicas (AFM)

Microscopio de sonda de barrido Agilent 5500 AFM/STM.

Microscopía óptica

Microscopio óptico Nikon Eclipse ME600L

Porosimetría por intrusión de mercurio (PIM)

AUTOPORE IV modelo 9505.

Potenciometría

Titulador potenciométrico Metrohm 888 Titrando.

Preparación de muestras para técnicas instrumentales

• Preparación de muestras embutidas y pulidas para su estudio por microscopía óptica y electrónica.
• Metalizado de muestras con Au, Cr y C para microscopía electrónica.
  • Metalizador – Sputtering Q150T Plus y Q150T ES PLUS, de Quorum Technologies.

• Preparación de perlas fundidas para Fluorescencia de rayos X,
  • Perladora eléctrica XRFUSE 1, de XRF SCIENTIFIC
• Preparación de pastillas prensadas para Fluorescencia de rayos X.
  • Prensa manual HERZOG